GB2423國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)目錄集(環(huán)境)

日期：2025-10-13 12:32

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摘要：

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備

GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10587-89 鹽務(wù)試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10588-89 長(zhǎng)霉試驗(yàn)逄技術(shù)條件

GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10590-89 低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)務(wù)件

GB10591-89 高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-89 高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB11159-89 低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件

----電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法

GB/T5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.8-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.9-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽(yáng)輔射試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

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